Stratix® IV 장치 핸드북, 1권, 11장: SEU 완화

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Stratix® IV FPGAs Support

654014
2011-02-02
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설명

Stratix® IV 장치의 오류 감지, 순환 중복 검사(CRC) 및 SEU 완화에 대해 설명합니다.

사용 지침

관련 자산
제목 및 설명
Format
언어
사용
Describes IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing in Stratix® IV Devices
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This section provides a description of transceiver architecture and transceiver clocking for the Stratix® IV device family. It also describes configuring for multiple protocols and data rates, reset control and power down, and dynamic configuration for Stratix IV devices.
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Which configuration schemes are supported and how to execute required configuration schemes.
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Describes hot socketing and power-on reset in Stratix® IV Devices
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