문서 ID: 000078625 콘텐츠 형태: 문제 해결 마지막 검토일: 2013-03-25

하드 프로세서 시스템(HPS) JTAG 핀을 통해 경계 스캔 테스트를 수행할 수 있습니까?

환경

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
설명

아니요, HPS JTAG 핀을 통해 경계 스캔 테스트를 수행할 수 없습니다. 그러나 tbe HPS I/O 핀은 FPGA JTAG 핀을 통해 경계 스캔 테스트를 지원합니다. Cyclone® V SoC 장치용 Quartus® II 소프트웨어를 통해 생성된 BSDL 파일에는 경계 스캔을 지원하는 HPS I/O 핀이 포함됩니다.

참고: Cyclone V SoC FPGAs 경우, 경계 스캔 테스트(BST)를 수행하려면 HPS와 FPGA 모두 전원을 공급해야 합니다.

관련 제품

이 문서는 다음 항목에 적용됩니다. 3 제품

Cyclone® V SX SoC FPGA
Cyclone® V ST SoC FPGA
Cyclone® V SE SoC FPGA

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