문서 ID: 000084637 콘텐츠 형태: 문제 해결 마지막 검토일: 2012-09-11

Cyclone 장치 LVDSCLKn 경계 스캔 실패가 발생한 이유

환경

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
설명 전원이 켜진 상태에서 CLK1 및 CLK3가 비활성화되고 CLK0 및 CLK2가 활성화되어 있기 때문에 Cyclone® 장치 LVDSCLKn 경계 스캔 실패가 발생할 수 있습니다. 경계 스캔 테스트에서 CLK1 또는 CLK3를 검증해야 하는 경우, CONFIG_IO 명령을 사용하여 클럭 핀의 입력 버퍼를 구성할 수 있습니다.

이 작업은 사전 구성 경계 스캔 테스트를 수행하기 전에 전원을 공급한 후 CONFIG_IO 명령을 적용하여 수행할 수 있습니다. 를 참조하십시오.
MorphIO: Altera 장치용 I/O 재구성 솔루션 (PDF) CONFIG_IO 지침에 대한 자세한 내용을 확인하십시오.

사전 구성 경계 스캔 테스트에서 이러한 CLK 핀을 테스트하려는 경우 수정된 핀을 다운로드하십시오. Cyclone 1149.1 경계 스캔 설명 언어(BSDL) 파일.

경계 스캔 테스트를 위해 이러한 CLK 핀이 JTAG 체인에 있을 필요가 없는 경우 최신 핀을 사용하십시오. Cyclone 1149.1 BSDL 파일.

관련 제품

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Cyclone® FPGA

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