문서 ID: 000086640 콘텐츠 형태: 문제 해결 마지막 검토일: 2018-11-06

EPCQA 장치를 Cyclone 사용한 V 액티브 직렬 구성이 저온에서 실패하는 이유는 무엇입니까?

환경

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
설명

Cyclone® V 장치의 액티브 직렬(AS) 구성은 보류 타이밍 문제로 인해 EPCQA 장치에서 저온(< 20도 이하)에서 실패하는 것으로 보일 수 있습니다.


Cyclone V AS 구성의 최소 데이터 보유 시간(tDH) 사양은 아래와 같이 수정되었습니다.

  • 2.5ns – -6 속도 등급
  • 2.9ns – -7 및 -8 속도 등급
해결 방법
낮은 온도에서 이 시간 제로 구성 오류를 방지하려면 아래 단계를 따르십시오.
  1. AN822의 '데이터 설정 평가 및 보류 타이밍 슬랙' 섹션에서 언급한 대로 액티브 직렬 구성 체계에 필요한 보류 시간을 계산하여 보드의 보류 시간 여유를 평가합니다.
  2. 타사 플래시 데이터시트에 따라 최소 tCLQX 값이 더 큰 플래시 메모리 장치를 선택합니다.
    • 예를 들어, 다음 3자 플래시 장치를 사용하여 2ns tDH 여유를 얻을 수 있습니다.
    • Winbond™ W25Q-FV
    • 사이프러스™ S25FL-S/S70FL-S/S25FL1-K
    • Macronix™ MX25L6445E/MX25L6465E/MX25L12845E/MX25L12865E/MX25L25635E
  3. DCLK 및 AS_DATA[3:0] 추적에 시리즈 종료 저항기/버퍼/커패시터를 추가하여 각 신호의 전파 지연을 증가합니다.
    • IBIS/link 시뮬레이션은 tDH 요구 사항을 충족할 것으로 예상되는 추가 지연을 유도하고 신호 무결성이 양호한지 확인하고 플래시 장치의 입력 타이밍 사양이 충족되도록 하는 것이 좋습니다.

관련 제품

이 문서는 다음 항목에 적용됩니다. 2 제품

Cyclone® V FPGA 및 SoC FPGA
인텔® FPGA 구성 장치 EPCQ-A

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