경계 스캔 도구
경계 스캔 테스트(BST) 아키텍처는 납 간격이 좁은 PCB에서 구성 요소를 효율적으로 테스트할 수 있는 기능을 제공합니다. 이 BST 아키텍처는 물리적 테스트 프로브를 사용하지 않고 핀 연결을 테스트하고 장치가 정상적으로 작동하는 동안 기능 데이터를 캡처할 수 있습니다. 장치의 경계 스캔 셀은 핀에 신호를 강제하거나 핀 또는 코어 로직 신호에서 데이터를 캡처할 수 있습니다. 강제 테스트 데이터는 경계 스캔 셀로 연속적으로 이동됩니다. 캡처된 데이터는 예상 결과와 비교하여 연속적으로 외부로 이동됩니다.
경계 스캔 도구는 MAX® II, MAX® 3000A, MAX® 7000AE 및 MAX® 7000B 장치를 포함한 인텔® FPGA 장치에 대한 IEEE 표준 1149.1 컨트롤러를 활용하는 시스템 내 프로그래밍 가능성(ISP) 기능을 제공합니다. 이러한 장치는 또한 IEEE 표준 1149.1 테스트 액세스 포트(TAP) 인터페이스를 활용하는 IEEE 1532 프로그래밍을 지원합니다.
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