인텔은 차별화된 패키징 및 테스트 기술 분야의 세계적인 리더입니다1
2D, 2.5D 및 3D 패키징 리더십을 바탕으로 2030년까지 단일 패키지에 1조 개의 트랜지스터를 탑재한다는 Intel Foundry의 목표에 동참하십시오.
고급 칩렛 패키징
Intel Foundry는 다양한 구성을 제공합니다. 칩은 Intel Foundry ASAT(Intel Foundry Advanced System Assembly and Test) 또는 OSAT(Outsourced Semiconductor Assembly and Test)를 사용하여 제작될 수 있습니다. 그런 다음, 최적화된 인터커넥트로 연결되는데, 인텔은 Universal Chiplet Interconnect Express(UCIe) 등으로 업계 표준을 주도하는 데 기여하고 있습니다.
인텔은 프런트엔드 및 백엔드 기술을 결합하여 시스템 수준에 최적화된 솔루션을 개발할 수 있도록 지원합니다. 또한, 인텔은 견고하고 지리적으로 다양한 대규모 제조 현장을 통해 독보적인 규모와 깊이의 조립 및 테스트 기능을 제공합니다.
임베디드 멀티 다이 인터커넥트 브리지 2.5D(EMIB 2.5D)
임베디드 멀티 다이 인터커넥트 브리지 2.5D.
- 여러 복잡한 다이를 효율적이고 비용 효과적으로 연결.
- 로직-로직 및 로직-HBM(고대역 메모리)을 위한 2.5D 패키징.
- EMIB-M은 브리지에 MIM 커패시터를 사용합니다. EMIB-T는 TSV를 브리지에 추가합니다.
- 패키지 기판에 규소 브리지를 내장하여 쇼어라인 간 연결 구현.
- EMIB-T는 다른 패키징 디자인으로부터 지식재산 통합을 용이하게 지원할 수 있습니다.
- 간소화된 공급망과 조립 공정.
- 입증된 생산: 2017년부터 인텔 및 외부 실리콘을 기반으로 대량 생산 중.
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Foveros-S 2.5D
비용/성능에 최적화된 차세대 패키지.
- 4x 레티클을 갖춘 실리콘 인터포저.
- 클라이언트 응용 프로그램에 적용 가능합니다.
- 여러 탑 다이 칩렛을 사용하는 솔루션에 이상적입니다.
- 입증된 생산: 2019년부터 능동 베이스 다이를 사용하여 대량 생산 중입니다.
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Foveros-R 2.5D
칩렛 간의 이기종 통합을 구현하는 재배선층(RDL) 인터포저를 갖추고 있습니다.
- 클라이언트 및 비용에 민감한 세그먼트에 적용 가능합니다.
- 여러 개의 탑 다이 칩셋에서 복잡한 기능 요구 사항을 가진 솔루션에 적용입니다.
- 2027년 양산 가능합니다.
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Foveros Direct 3D
능동 베이스 다이에 칩렛을 3D로 적층하여 뛰어난 비트당 전력 성능을 제공합니다.
- Cu-Cu HBI(하이브리드 본딩 인터페이스).
- 초고대역폭 및 저전력 인터커넥트.
- 고집적 및 저저항 다이 간 인터커넥트.
- 클라이언트 및 데이터 센터에 적용 가능합니다.
- 임베디드 멀티 다이 인터커넥트 브리지 3.5D (EMIB 3.5D) 솔루션에서 Foveros Direct 적층을 지원합니다.
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임베디드 멀티 다이 인터커넥트 브리지 3.5D(EMIB 3.5D)
임베디드 멀티 다이 인터커넥트 브리지 3.5D와 Foveros를 하나의 패키지로 통합합니다.
- 다양한 다이로 유연한 이기종 시스템 지원합니다.
- 여러 3D 스택을 하나의 패키지에 결합해야 하는 응용 프로그램에 적합합니다.
- 인텔® Data Center GPU Max Series SoC: 임베디드 멀티 다이 인터커넥트 브리지 3.5D (EMIB 3.5D)를 사용하여 1,000억 개 이상의 트랜지스터, 47개의 액티브 타일, 5개의 공정 노드로 인텔이 지금까지 양산한 것 중 가장 복잡한 이기종 칩을 제작.
고급 칩렛 테스트
Intel Foundry는 단일 다이 정렬 분야에서의 풍부한 경험, 테스트 전문 지식 및 첨단 장비 솔루션을 제공하여 가장 까다로운 고객의 제품을 우수한 수율로 안정적으로 공급합니다. 인텔은 고객의 필요에 따라 Advantest와 Teradyne의 상용 자동 테스트 장비(ATE) 또는 Intel Foundry의 고밀도 모듈형 테스터(HDMT)를 활용하여 제조 공정의 모든 단계에 걸쳐 테스트 서비스를 제공합니다.
컴퓨팅 성능에 대한 요구가 기하급수적으로 증가함에 따라 설계의 복잡성이 증가하고 있습니다. 설계에 포함되는 칩렛 수가 증가함에 따라 최종 조립 전에 알려진 양호한 다이를 식별하고 제공할 수 있는 고급 테스트 서비스의 필요성이 증가했습니다. 인텔의 고급 칩렛 테스트 서비스는 물류 복잡성을 최소화한 완전한 턴키 방식부터 고객 소유 테스트 프로그램 및 테스트 하드웨어 실행 지원에 이르기까지 다양한 옵션을 제공합니다.
웨이퍼 정렬
제조 테스트 플로우의 첫 번째 단계로, 인텔의 웨이퍼 정렬 프로세스는 프로버와 테스터를 사용해 다이가 여전히 웨이퍼에 부착된 상태에서 각 다이에 대한 전기적 테스트를 수행합니다. 고객의 관심사와 필요에 따라 상용 ATE 및 인텔 HDMT 모두 지원됩니다.
다이 정렬
Intel Foundry의 단일 다이 정렬 기술은 10년 이상의 기간에 걸쳐 수십억 개의 다이 생산 경험을 통해 축적된 동급 최고의 수율 차별화 요소입니다. 웨이퍼 수준이 아닌 다이 수준에서 테스트를 수행할 수 있는 능력은 더 많은 양의 알려진 양호한 다이 및 다이 스택을 어셈블리에 제공하는 데 필수적입니다.
다이 정렬은 동급 최고의 능동적 열 제어 기능을 제공하여 더욱 엄격한 열(온도) 기울기와 더 높은 설정점 온도를 구현합니다. Intel Foundry는 다이 정렬 기능 향상을 향상시켜 번인(스트레스)을 조기에 발생시킬 수 있도록 지원합니다.
번인
패키지 수준에서 능동적 열 제어를 통해 열 조건 하에서 부하 테스트를 수행하는 인텔의 능력은 최종 조립 전 신뢰성 향상에 매우 중요합니다. Intel Foundry는 제조 테스트 플로우의 번인뿐만 아니라 표준 실리콘 신뢰성 검증을 지원합니다.
최종 테스트
Intel Foundry는 상용 ATE 포트폴리오를 통해 최고의 전력, 최고의 IO 및 병렬 처리를 제공합니다. 인텔의 HDMT는 고열 밀도 제품을 위한 동급 최고의 열 제어 기능을 지원하며, 이에는 테스터에서 핸들러의 열 제어로 온도 스트리밍 제공이 포함됩니다.
시스템 수준 테스트
시스템 수준 테스트(SLT)는 높은 수율로 신뢰성 있는 제품을 제공하기 위한 마지막 단계입니다. 인텔의 맞춤형 SLT 서비스는 가장 미세한 결함까지도 포착하여 장치가 설계 사양을 충족하고 실제 환경에서 예상대로 작동하는지 확인할 수 있도록 설계되었습니다.
Intel Foundry의 HDMT 최종 테스트 플랫폼
Intel Foundry의 HDMT 시스템 수준 테스트 플랫폼
Intel Foundry 포털
제품 및 성능 정보
인텔 내부 분석 기준(2023년).
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