문서 ID: 000077038 콘텐츠 형태: 문제 해결 마지막 검토일: 2012-09-11

FLEX 10K® 및 FLEX® 10KA 장치의 오픈 드레인 기능으로 인해 JTAG(Joint Test Action Group) EXTEST 작동 중에 장치 출력이 높지 않을 수 있습니까?

환경

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
설명 FLEX 10K 및 FLEX 10KA 장치를 사용할 때 오픈 드레인 핀으로 인해 출력이 높게 구동되지 않을 수 있습니다.

FLEX 10K 및 FLEX 10KA 장치는 오픈 드레인 기능을 옵션으로 제공하여 설계자가 핀별로 오픈 드레인 작동을 선택할 수 있습니다.

JTAG IEEE 표준 1149.1은 테스트 모드 중 장치 핀 특성(즉, 입력 또는 출력 핀 유형, 오픈 드레인, 전압 레벨)이 최소한 사용자 모드에서 사용할 수 있는 기능을 제공해야 한다고 규정하고 있습니다. JTAG 사양을 준수하는 FLEX 10K 및 FLEX 10KA 장치는 사용자 모드와 테스트 모드 간에 동일한 핀 작동을 제공합니다. 따라서 이러한 장치가 오픈 드레인 기능을 사용하도록 설정된 일부 출력 핀이 있는 디자인으로 구성된 경우 해당 핀은 EXTEST 중에 이 오픈 드레인 구성도 갖게 됩니다.

오픈 드레인 출력을 사용하려면 설계자가 정확한 신호 레벨을 보장하기 위해 풀업 저항을 갖추어야 합니다. 오픈 드레인 출력이 있는 JTAG 호환 장치의 경우, 이 요구 사항은 사용자 모드와 EXTEST 작업 모두에 적용됩니다. FLEX 10K 및 FLEX 10KA 장치를 사용하면 사용자가 다른 설계로 장치를 재구성하기만 하면 이 오픈 드레인 출력 선택을 변경할 수 있습니다. 따라서 신호 테스트는 현재 장치에 구성된 사용자 기능에 따라 달라집니다.

EXTEST 동안 구성되지 않은 FLEX 10K 및 FLEX 10KA 장치의 I/O 핀은 오픈 드레인 특성 없이 구동됩니다. 따라서 오픈 드레인 출력이 있는 설계를 테스트할 때 EXTEST 작업은 장치 구성 전후에 다릅니다.

관련 제품

이 문서는 다음 항목에 적용됩니다. 1 제품

Flex® 10K

이 페이지의 콘텐츠는 원본 영어 콘텐츠에 대한 사람 번역 및 컴퓨터 번역의 조합으로 완성되었습니다. 이 콘텐츠는 편의와 일반적인 정보 제공을 위해서만 제공되었으며, 완전하거나 정확한 것으로 간주되어선 안 됩니다. 이 페이지의 영어 버전과 번역 간 모순이 있는 경우, 영어 버전이 우선적으로 적용됩니다. 이 페이지의 영어 버전을 확인하십시오.